ʻO ka Tester Packena Paka (lawe lima) no nā Kelepona Kelepona Kelepona & Digital
Hōʻike Overview
ʻO ia ka Packer tester tester i hoʻopili ʻia i nā hoʻokolohua ʻano maʻamau o ka puʻukū Li-ion a me ka IC pale (kākoʻo iā I2C, SMBus, nā kamaʻilio kamaʻilio HDQ).
ʻO Basic Fhelehelena Test
• anakahi uila
• uila uila
• Hōʻoia hoʻoili hoʻoiho
• Hōʻike ACIR;
• Hōʻike ThR
• Hōʻike IDR
• hoʻāʻo uila uila maʻamau
• Hōʻoia i ka hoʻokuʻu ʻana o ka uila
• Hōʻike Capacitance
• hoʻāʻo leakage
• ʻO kā IDR / THR a me ka kāohi hoʻokolohua capacitance on-off
Nā hoʻāʻo hiʻohiʻona pale
• Ma luna o ka hoʻāʻo pale o kēia manawa: ka hoʻouka ʻana ma luna o ka hana pale i neia manawa, ka hoʻopaneʻe manawa hoʻomalu a me ka hoʻāʻo ʻana o ka hana hou
Nā Hōʻikeʻike ：
- Mea liʻiliʻi, maʻalahi e lawe
- Hoʻolālā modular, maʻalahi e mālama
- Hōʻike ʻikepili ʻokoʻa
- Hilinaʻi kiʻekiʻe
- Maʻalahi ka ʻikepili hoʻokolohua no ka hoʻokele a me ka kaohi, palekana kiʻekiʻe a maʻalahi hoʻi e hahai
- ʻO ka wikiwiki o ka hoʻāʻo wikiwiki (ʻo ka hoʻokolohua hoʻokele ʻaʻohe pākahi maʻamau e pili ana i 2s a ʻo ka manawa hoʻoulu hoʻomalu ma lalo o 100mS)
Hoakaka:
|
Papa Kuhikuhi |
Hoakaka |
Pololei |
|
Anakahi uila |
0.1 ～ 10V |
± （0.01% RD + 0.05% FS） |
|
Hōʻike ACIR |
0 ～ 1250 mΩ |
（0.15% RD + 1 mΩ Ω |
|
Hōʻike ThR |
200 ～ 1M |
± （0.1% RD + 100Ω |
|
1M ~ 3M |
± （0.1% RD + 500Ω |
|
|
Hōʻike IDR |
200 ～ 1M |
± （0.1% RD + 100Ω |
|
1M ~ 3M |
± （0.1% RD + 500Ω |
|
|
ʻO ka hoʻāʻo maʻamau ʻana o kēia wā (Kaohi ʻana i ka pale a me ka hoʻopaneʻe ʻana o ka pale aku) |
0.1 ～ 2A |
± （0.01% RD + 0.05% FS） |
|
2 ～ 30A |
± （0.01% RD + 0.02% FS） |
|
|
Hoʻokuʻu maʻamau i ka hoʻāʻo o kēia manawa (ka hoʻokuʻu ʻana i ka pale a me ka hoʻopaneʻe palekana hou ʻana) |
0.1 ～ 2A |
± （0.01% RD + 0.5mA） |
|
2 ～ 30A |
± （0.02% RD + 0.5mA） |
|
|
Hōʻike Capacitance |
0.1 ～ 10 uF |
± （5% RD + 0.05uF） |
|
Hōʻike pale pale pōkole (loaʻa i ka hoʻopaneʻe palekana) |
2 ～ 30A |
± （0.02% RD + 0.5mA） |
